產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
GCSTD-D高低頻介電常數(shù)試驗(yàn)測(cè)試儀
GDW-250電阻高溫度特性測(cè)試試驗(yàn)臺(tái)
NLD-AI全自動(dòng)高壓漏電起痕試驗(yàn) 漏電測(cè)試儀
GEST-121體積表面電阻測(cè)定儀
GEST-122多功能炭素電極電阻率測(cè)試儀
GCSTD-FI液體高低介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
GEST-122多功能炭素粉末石墨電阻率測(cè)量?jī)x
GCDDJ-50Kv電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀
GCDDJ-100Kv電壓擊穿試驗(yàn)儀
FTDZ-I粉末電阻率測(cè)試儀
MCTH-500新款MCTH碳滑板摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)
GCSTD-A/B液體絕緣材料高頻介電常數(shù)測(cè)試儀
PMQS-I新款泡沫起升儀PMQS
PMQS-I新款國(guó)產(chǎn)泡沫起升儀PMQS
NDH-B耐電弧試驗(yàn)儀-微機(jī)控制
GEST-122炭素材料石墨電極電阻率測(cè)試儀
當(dāng)前位置：首頁
產(chǎn)品中心粉末電阻率測(cè)試儀四探針-粉末電阻率測(cè)試儀
product
產(chǎn)品分類
四探針電阻率測(cè)試儀粉末 主要用于測(cè)量粉末材料電阻率試驗(yàn)的專用儀器. 由于粉末材料的密實(shí)度不同,在松裝和振實(shí)密度條件下,所測(cè)試得到的數(shù)據(jù)是不同的,所以測(cè)試粉末電 阻,要求在規(guī)定的壓力條件下進(jìn)行測(cè)試.便于進(jìn)行有效數(shù)據(jù)的測(cè)試及對(duì)比.
更新時(shí)間：2025-01-05
產(chǎn)品型號(hào)：FTDZS-I
瀏覽量：951
雙四探針粉末電阻率測(cè)定儀主要用于測(cè)量粉末材料電阻率試驗(yàn)的專用儀器. 由于粉末材料的密實(shí)度不同,在松裝和振實(shí)密度條件下,所測(cè)試得到的數(shù)據(jù)是不同的,所以測(cè)試粉末電 阻,要求在規(guī)定的壓力條件下進(jìn)行測(cè)試.便于進(jìn)行有效數(shù)據(jù)的測(cè)試及對(duì)比.
更新時(shí)間：2025-01-05產(chǎn)品型號(hào)：FTDZS-I瀏覽量：980
四探針粉末電阻率測(cè)量?jī)x主要用于測(cè)量粉末材料電阻率試驗(yàn)的專用儀器. 由于粉末材料的密實(shí)度不同,在松裝和振實(shí)密度條件下,所測(cè)試得到的數(shù)據(jù)是不同的,所以測(cè)試粉末電 阻,要求在規(guī)定的壓力條件下進(jìn)行測(cè)試.便于進(jìn)行有效數(shù)據(jù)的測(cè)試及對(duì)比.
更新時(shí)間：2025-01-05產(chǎn)品型號(hào)：FTDZS-I瀏覽量：947
四探針法粉末電阻率測(cè)定儀主要用于測(cè)量粉末材料電阻率試驗(yàn)的專用儀器. 由于粉末材料的密實(shí)度不同,在松裝和振實(shí)密度條件下,所測(cè)試得到的數(shù)據(jù)是不同的,所以測(cè)試粉末電 阻,要求在規(guī)定的壓力條件下進(jìn)行測(cè)試.便于進(jìn)行有效數(shù)據(jù)的測(cè)試及對(duì)比.
更新時(shí)間：2025-01-05產(chǎn)品型號(hào)：FTDZS-I瀏覽量：928四探針粉末電阻率測(cè)試儀主要用于測(cè)量粉末材料電阻率試驗(yàn)的專用儀器. 由于粉末材料的密實(shí)度不同,在松裝和振實(shí)密度條件下,所測(cè)試得到的數(shù)據(jù)是不同的,所以測(cè)試粉末電 阻,要求在規(guī)定的壓力條件下進(jìn)行測(cè)試.便于進(jìn)行有效數(shù)據(jù)的測(cè)試及對(duì)比.
更新時(shí)間：2025-01-05產(chǎn)品型號(hào)：FTDZS-I瀏覽量：912